Die Patentrecherche ist eine spezielle Plattform für die检索和查看专利文献 und fasst Patentdatenbanken aus verschiedenen Ländern und Regionen der Welt zusammen, darunter das Chinesische Nationale Amt für Geistiges Eigentum, das US-Patent- und Markenamt (USPTO), das Europäische Patentamt (EPO), das Japanische Patentamt (JPO) und die Weltorganisation für geistiges Eigentum (WIPO). Diese Plattformen unterstützen eine mehrdimensionale präzise Suche nach Erfindungsnamen, Anmeldern, Erfindern, Klassifikationsnummern und Anmeldetagen und bieten erweiterte Funktionen wie Volltextansicht von Patenten, Abfrage des rechtlichen Status von Patenten, Analyse von Patentzitaten und Anzeige von Patentfamilien. Sie sind wichtige Werkzeuge für technische Forschung und Entwicklung, Patentanmeldung und Arbeit an geistigem Eigentum.
